JIB-4700F

Το JEOL JIB-4700F MultiBeam System συνδυάζει προηγμένη τεχνολογία FIB-SEM με καινοτόμα χαρακτηριστικά, καθιστώντας το ιδανική λύση για ερευνητές και επαγγελματίες που απαιτούν υψηλής ανάλυσης απεικόνιση και γρήγορη, ακριβή επεξεργασία δειγμάτων. Σχεδιασμένο για ταχύτητα, ακρίβεια και ευελιξία, το JIB-4700F είναι ιδανικό για εφαρμογές στις επιστήμες υλικών, την έρευνα ημιαγωγών και τη νανοτεχνολογία.

Κύρια Χαρακτηριστικά

1. Υβριδικός Κωνικός Αντικειμενικός Φακός και GENTLEBEAM™ (GB) Mode:

• Εξασφαλισμένη υψηλής διακριτικής ικανότητας απεικόνιση SEM με 1,2 nm στα 15 kV (GB mode) και 1,6 nm στα 1 kV (GB mode).
• Επιτρέπει λειτουργία σε χαμηλή τάση για την απεικόνιση ευαίσθητων δειγμάτων χωρίς απώλεια ποιότητας.

2. In-Lens Schottky FEG:

• Παράγει δέσμη ηλεκτρονίων με μέγιστο ρεύμα 300 nA, προσφέροντας εξαιρετικά υψηλής διακριτικής ικανότητας απεικόνιση και ταχείες στοιχειακές αναλύσεις.

3. Υψηλής Απόδοσης Στήλη FIB:

• Εξοπλισμένο με δέσμη ιόντων Ga υψηλής πυκνότητας ρεύματος, με μέγιστο ρεύμα 90 nA για γρήγορη και αποτελεσματική επεξεργασία και χάραξη δειγμάτων.
• Προσφέρει ανάλυση FIB 4,0 nm στα 30 kV.

4. Προηγμένο Σύστημα Ανιχνευτή In-Lens:

• Διασφαλίζει ακριβή απεικόνιση με βελτιωμένο λόγο σήματος προς θόρυβο, υποστηρίζοντας λεπτομερή παρατήρηση σύνθετων δομών δειγμάτων.

Τεχνικές Προδιαγραφές

• Διακριτική Ικανότητα SEM:
  • 1,2 nm (15 kV, GB mode)
  • 1,6 nm (1 kV, GB mode)
• Διακριτική Ικανότητα FIB:
  • 4,0 nm (30 kV)
• Ρεύμα Δέσμης FIB:
  • Από 1 pA έως 90 nA
• Πηγή Ηλεκτρονίων:
  • Πηγή In-Lens Schottky Field Emission Gun με μέγιστο ρεύμα 300 nA

Εφαρμογές

Το JIB-4700F MultiBeam System είναι σχεδιασμένο για προηγμένες ερευνητικές και βιομηχανικές εφαρμογές, όπως:

• Επιστήμες Υλικών: Υψηλής ανάλυσης απεικόνιση και ανάλυση επιφανειών.
• Νανοτεχνολογία: Ακριβής κατασκευή και χειρισμός δειγμάτων.
• Έρευνα Ημιαγωγών: Απεικόνιση τομών, ανάλυση ελαττωμάτων και επεξεργασία κυκλωμάτων.
• Προετοιμασία Δειγμάτων TEM: Γρήγορη και ακριβής χάραξη για υψηλής ποιότητας αποτελέσματα.

Γιατί να Επιλέξετε το JEOL JIB-4700F;

Με τον συνδυασμό υψηλής διακριτικής ικανότητας, γρήγορης επεξεργασίας δειγμάτων και φιλικού προς τον χρήστη σχεδιασμού, το JIB4700Fεπαναπροσδιορίζει τα πρότυπα απόδοσης για τα συστήματα FIB-SEM. Είτε διεξάγετε προηγμένη έρευνα είτε βιομηχανική ανάλυση, αυτό το σύστημα προσφέρει ασύγκριτη ακρίβεια και παραγωγικότητα.

Για περισσότερες πληροφορίες, επισκεφθείτε την επίσημη ιστοσελίδα της JEOL.