JIB-PS500i

Το JEOL JIB-PS500i αντιπροσωπεύει την αιχμή της τεχνολογίας Focused Ion Beam-Scanning Electron Microscope (FIB-SEM). Συνδυάζοντας υψηλής ανάλυσης απεικόνιση με κορυφαίες δυνατότητες FIB, το JIB-PS500i έχει σχεδιαστεί για ακριβή και υψηλής ποιότητας προετοιμασία δειγμάτων, ειδικά για ανάλυση TEM. Αυτό το υπερσύγχρονο σύστημα υποστηρίζει προηγμένη έρευνα και βιομηχανικές εφαρμογές, προσφέροντας ακριβή χαρακτηρισμό υλικών και επεξεργασία δειγμάτων.

Βασικά Χαρακτηριστικά:

• Απεικόνιση SEM Υψηλής Ανάλυσης:

Επιτυγχάνει εξαιρετική διακριτική ικανότητα SEM με 0.7 nm στα 15 kV, 1.4 nm στα 1 kV και 1.0 nm στα 1 kV σε λειτουργία BD, επιτρέποντας λεπτομερή παρατήρηση των μικροδομών.

• Σύστημα FIB Υψηλής Απόδοσης:

Παρέχει διακριτική ικανότητα 3 nm στα 30 kV και εύρος ρεύματος δέσμης από 1 pA έως 100 nA, διασφαλίζοντας ακριβή κοπή και προετοιμασία δειγμάτων.

• Μεγάλη Βάση Δειγμάτων:

Εξοπλισμένη με πλήρως ρυθμιζόμενη βάση με μεγάλες γωνίες κλίσης, διευκολύνει την προετοιμασία δειγμάτων TEM.

• Διπλός Τροποποιητής Κλίσης:

Επιτρέπει την απρόσκοπτη μεταφορά των δειγμάτων στο TEM χωρίς την ανάγκη αντικατάστασης του TEM grid, διασφαλίζοντας αποδοτικότητα και μειώνοντας τα σφάλματα χειρισμού.

• Απλοποιημένη Ροή Εργασιών:

Ο συνδυασμός των λειτουργιών SEM και FIB σε μία πλατφόρμα απλοποιεί τις σύνθετες διαδικασίες, καθιστώντας το ιδανικό για αναλύσεις ρουτίνας και προηγμένες εφαρμογές.

Τεχνικές Προδιαγραφές:

• Διακριτική Ικανότητα SEM:
  • 7 nm στα 15 kV
  • 4 nm στα 1 kV
  • 1,0 nm στα 1 kV (λειτουργία BD)
• Διακριτική Ικανότητα FIB: 3 nm στα 30 kV
• Ρεύμα Δέσμης FIB: 1 pA έως 100 nA

Εφαρμογές:

Ιδανικό για προετοιμασία δειγμάτων TEM, cross-sectional τομογραφία, νανοκατασκευές και ανάλυση υλικών.

Το JIB-PS500i αποτελεί ένα ευέλικτο και ισχυρό εργαλείο για ερευνητές και επαγγελματίες στους τομείς της επιστήμης υλικών, της έρευνας ημιαγωγών, της νανοτεχνολογίας και άλλων προηγμένων πεδίων. Με την ασύγκριτη ακρίβειά του, την απλοποιημένη λειτουργία του και το φιλικό προς το χρήστη σχεδιασμό του, εγγυάται άριστα αποτελέσματα ακόμα και για τις πιο απαιτητικές εφαρμογές.

Για περισσότερες πληροφορίες, επισκεφθείτε την επίσημη ιστοσελίδα της JEOL.