JXA-iSP100

Ο Mικροαναλυτής Ηλεκτρονικής Δέσμης JXA-iSP100 (EPMA) της JEOL είναι ένα όργανο τελευταίας τεχνολογίας που έχει σχεδιαστεί για τον εξορθολογισμό των διαδικασιών μικροανάλυσης, επιτρέποντας στους χρήστες να παρατηρούν και να αναλύουν αποτελεσματικά καθορισμένες περιοχές ενδιαφέροντος. Ενσωματώνοντας προηγμένο αυτοματισμό και φιλικά προς τον χρήστη χαρακτηριστικά, ο JXA-iSP100 διασφαλίζει ότι τόσο οι αρχάριοι όσο και οι έμπειροι χρήστες μπορούν να επιτύχουν με ευκολία αποτελέσματα υψηλής ποιότητας.

Αυτοματοποιημένος Χειρισμός Δειγμάτων και Πλοήγηση

Το JXA-iSP100 διαθέτει έναν αυτοματοποιημένο αεροφράκτη ανταλλαγής δειγμάτων εξοπλισμένο με ενσωματωμένη έγχρωμη κάμερα πλοήγησης τοποθετημένη στην οροφή. Αυτός ο σχεδιασμός επιτρέπει στους χρήστες να εισάγουν δείγματα και να αποκτούν οπτικές εικόνες της υποδοχής δείγματος με ένα μόνο κλικ, διευκολύνοντας τον γρήγορο εντοπισμό των σημείων παρατήρησης-στόχου. Η εικόνα πλοήγησης της τράπεζας του συστήματος επιτρέπει στους χρήστες να επιλέγουν άμεσα πεδία ανάλυσης, ενισχύοντας την αποτελεσματικότητα της ροής εργασιών.

Απλοποιημένες και Αυτοματοποιημένες Λειτουργίες

Για να διασφαλιστεί ότι οι χρήστες μπορούν να λαμβάνουν αβίαστα εικόνες υψηλής ποιότητας στο ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης (SEM), το JXA-iSP100 είναι εξοπλισμένο με βελτιστοποιημένες αυτόματες λειτουργίες για τη ρύθμιση της εικόνας. Η ενσωμάτωση της φασματοσκοπίας ενεργειακής διασποράς ακτίνων-Χ (EDS) σε πραγματικό χρόνο επιτρέπει τον στοιχειακό έλεγχο κατά τη διάρκεια της παρατήρησης. Η λειτουργία «Easy EPMA» απλοποιεί τη στοιχειακή ανάλυση παρέχοντας μια απλοποιημένη ρύθμιση του οργάνου, καθιστώντας τη διαδικασία προσιτή ακόμη και σε όσους είναι αρχάριοι στην τεχνολογία EPMA.

Ενισχυμένες Αναλυτικές Δυνατότητες

Το JXA-iSP100 είναι σχεδιασμένο με υψηλή επεκτασιμότητα για να φιλοξενεί μια ποικιλία ανιχνευτών, όπως φασματόμετρα εκπομπής μαλακών ακτίνων-Χ (SXES), συστήματα ανάλυσης προσανατολισμού κρυστάλλων (περίθλαση οπισθοσκέδασης ηλεκτρονίων ή EBSD) και ανιχνευτές καθοδολυμικής φωταύγειας (CL). Αυτή η προσαρμοστικότητα επιτρέπει στο όργανο να εξυπηρετεί ποικίλους αναλυτικούς σκοπούς, παρέχοντας ολοκληρωμένα δεδομένα για διάφορες ερευνητικές ανάγκες.

Εύκολη Συντήρηση και Βαθμονόμηση

Για τη διατήρηση της βέλτιστης απόδοσης, το JXA-iSP100 περιλαμβάνει μια λειτουργία ειδοποίησης αυτοσυντήρησης που ειδοποιεί τους χρήστες όταν απαιτείται συντήρηση ρουτίνας. Το όργανο διαθέτει επίσης αποτελεσματικές δυνατότητες βαθμονόμησης, χρησιμοποιώντας ενσωματωμένα τυποποιημένα δείγματα για τον εξορθολογισμό της διαδικασίας βαθμονόμησης και τη μείωση της πιθανότητας σφάλματος του χρήστη. Αυτά τα χαρακτηριστικά διασφαλίζουν ότι το σύστημα EPMA παραμένει σε κορυφαία κατάσταση, ελαχιστοποιώντας τον χρόνο διακοπής λειτουργίας και μεγιστοποιώντας την παραγωγικότητα.

Βασικές Προδιαγραφές

• Πηγή Ηλεκτρονίων: Εξοπλισμένο με ανιχνευτή ηλεκτρονίων με νήμα βολφραμίου (W), το JXA-iSP100 εξασφαλίζει ακριβή ανάλυση.
• Ανιχνευτές: Το σύστημα περιλαμβάνει πέντε φασματόμετρα ακτίνων-Χ διασποράς μήκους κύματος (WDS) και ένα φασματόμετρο ενεργειακής διασποράς ακτίνων-Χ (EDS), επιτρέποντας την ολοκληρωμένη στοιχειακή ανάλυση με υψηλή ακρίβεια και ευαισθησία.
• Διακριτική Ικανότητα: Το JXA-iSP100 επιτυγχάνει διακριτική ικανότητα εικόνας δευτερογενούς ηλεκτρονίου 6 nm με νήμα βολφραμίου και 5 nm με νήμα εξαβοριδίου του λανθανίου (LaB₆) σε απόσταση εργασίας 11 mm και τάση επιτάχυνσης 30 kV.
• Τάση Επιτάχυνσης: Το όργανο λειτουργεί σε ένα εύρος από 0,2 έως 30 kV, ρυθμιζόμενο σε βήματα 0,1 kV, παρέχοντας ευελιξία για διάφορες αναλυτικές απαιτήσεις.
• Έυρος Ρεύματος Ανιχνευτή: Το JXA-iSP100 υποστηρίζει ένα εύρος ρεύματος ανιχνευτή από 10-¹² έως 10-⁵ A, εξυπηρετώντας ένα ευρύ φάσμα αναλυτικών σεναρίων.

Για περισσότερες λεπτομερείς πληροφορίες και ερωτήσεις, επισκεφθείτε την επίσημη ιστοσελίδα της JEOL.