JXA-iHP200F

Ο Mικροαναλυτής Ηλεκτρονικής Δέσμης Εκπομπής Πεδίου JXA-iHP200F (EPMA) της JEOL είναι ένα όργανο τελευταίας τεχνολογίας που έχει σχεδιαστεί για τον εξορθολογισμό των διαδικασιών μικροανάλυσης, επιτρέποντας στους χρήστες να παρατηρούν και να αναλύουν αποτελεσματικά καθορισμένες περιοχές ενδιαφέροντος. Ενσωματώνοντας προηγμένο αυτοματισμό και φιλικά προς τον χρήστη χαρακτηριστικά, ο JXA-iHP200F διασφαλίζει ότι τόσο οι αρχάριοι όσο και οι έμπειροι χρήστες μπορούν να επιτύχουν με ευκολία αποτελέσματα υψηλής ποιότητας.

Αυτοματοποιημένος Χειρισμός Δειγμάτων και Πλοήγηση

Το JXA-iHP200F διαθέτει έναν αυτοματοποιημένο αεροφράκτη ανταλλαγής δειγμάτων εξοπλισμένο με ενσωματωμένη έγχρωμη κάμερα πλοήγησης τοποθετημένη στην οροφή. Αυτός ο σχεδιασμός επιτρέπει στους χρήστες να εισάγουν δείγματα και να αποκτούν οπτικές εικόνες της υποδοχής δείγματος με ένα μόνο κλικ, διευκολύνοντας τον γρήγορο εντοπισμό των σημείων παρατήρησης-στόχου. Η εικόνα πλοήγησης της τράπεζας του συστήματος επιτρέπει στους χρήστες να επιλέγουν άμεσα πεδία ανάλυσης, ενισχύοντας την αποτελεσματικότητα της ροής εργασιών.

Απλοποιημένες και Αυτοματοποιημένες Λειτουργίες

Για να διασφαλιστεί ότι οι χρήστες μπορούν να λαμβάνουν αβίαστα εικόνες υψηλής ποιότητας στο ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης (SEM), το JXA-iHP200F είναι εξοπλισμένο με βελτιστοποιημένες αυτόματες λειτουργίες για τη ρύθμιση της εικόνας. Η ενσωμάτωση της φασματοσκοπίας ενεργειακής διασποράς ακτίνων-Χ (EDS) σε πραγματικό χρόνο επιτρέπει τον στοιχειακό έλεγχο κατά τη διάρκεια της παρατήρησης. Η λειτουργία «Easy EPMA» απλοποιεί τη στοιχειακή ανάλυση παρέχοντας μια απλοποιημένη ρύθμιση του οργάνου, καθιστώντας τη διαδικασία προσιτή ακόμη και σε όσους είναι αρχάριοι στην τεχνολογία EPMA.

Ενισχυμένες Αναλυτικές Δυνατότητες

Το JXA-iHP200F είναι σχεδιασμένο με υψηλή επεκτασιμότητα για να φιλοξενεί μια ποικιλία ανιχνευτών, όπως φασματόμετρα εκπομπής μαλακών ακτίνων-Χ (SXES), συστήματα ανάλυσης προσανατολισμού κρυστάλλων (περίθλαση οπισθοσκέδασης ηλεκτρονίων ή EBSD) και ανιχνευτές καθοδολυμικής φωταύγειας (CL). Αυτή η προσαρμοστικότητα επιτρέπει στο όργανο να εξυπηρετεί ποικίλους αναλυτικούς σκοπούς, παρέχοντας ολοκληρωμένα δεδομένα για διάφορες ερευνητικές ανάγκες.

Εύκολη Συντήρηση αι Βαθμονόμηση

Για τη διατήρηση της βέλτιστης απόδοσης, το JXA-iHP200F περιλαμβάνει μια λειτουργία ειδοποίησης αυτοσυντήρησης που ειδοποιεί τους χρήστες όταν απαιτείται συντήρηση ρουτίνας. Το όργανο διαθέτει επίσης αποτελεσματικές δυνατότητες βαθμονόμησης, χρησιμοποιώντας 18 ενσωματωμένα τυποποιημένα δείγματα για τον εξορθολογισμό της διαδικασίας βαθμονόμησης και τη μείωση της πιθανότητας σφάλματος του χρήστη. Αυτά τα χαρακτηριστικά διασφαλίζουν ότι το σύστημα EPMA παραμένει σε κορυφαία κατάσταση, ελαχιστοποιώντας τον χρόνο διακοπής λειτουργίας και μεγιστοποιώντας την παραγωγικότητα.

In-Lens Schottky Plus Field Emission Gun

Το JXA-iHP200F είναι εξοπλισμένο με πυροβόλο εκπομπής πεδίου Schottky Plus (FEG) εντός του φακού, το οποίο παρέχει υψηλή ανάλυση σε χαμηλές τάσεις επιτάχυνσης. Αυτό επιτρέπει την απεικόνιση και ανάλυση SEM υψηλής χωρικής ανάλυσης σε υψηλές μεγεθύνσεις. Τα πυροβόλα εκπομπής θερμιονίων, τα οποία επιτυγχάνουν μεγάλα ρεύματα ανιχνευτή με υψηλή σταθερότητα για μεγάλες χρονικές περιόδους, είναι κατάλληλα για γρήγορη ανάλυση ιχνοστοιχείων και για ολονύκτια ανάλυση πολλαπλών δειγμάτων.

Βασικές Προδιαγραφές

• Πηγή Ηλεκτρονίων: Το JXA-iHP200F είναι εξοπλισμένο με πηγή ηλεκτρονίων εκπομπής πεδίου Schottky, εξασφαλίζοντας απεικόνιση και ανάλυση υψηλής ανάλυσης.
• Ανιχνευτές: Το σύστημα περιλαμβάνει πέντε φασματόμετρα ακτίνων-Χ διασποράς μήκους κύματος (WDS) και ένα φασματόμετρο ενεργειακής διασποράς ακτίνων-Χ (EDS), επιτρέποντας την ολοκληρωμένη στοιχειακή ανάλυση με υψηλή ακρίβεια και ευαισθησία.
• Ανίχνευση Καθοδοφωταύγειας: Περιλαμβάνεται ένας ενσωματωμένος παγχρωματικός ανιχνευτής καθοδοφωταύγειας (CL), ο οποίος παρέχει πρόσθετες αναλυτικές δυνατότητες.
• Τάση Επιτάχυνσης: Το όργανο λειτουργεί έως 30 kV, παρέχοντας ευελιξία για διάφορες αναλυτικές απαιτήσεις.

Για περισσότερες λεπτομερείς πληροφορίες επισκεφθείτε την επίσημη ιστοσελίδα της JEOL.