JSM-IT810

Το JSM-IT810 από την JEOL συνδυάζει εξαιρετική ευελιξία, υψηλή χωρική ανάλυση και προηγμένο αυτοματισμό, καθιστώντας το ένα από τα πιο εύχρηστα μικροσκόπια FE-SEM της αγοράς. Σχεδιασμένο για να απλοποιεί τις ροές εργασίας και να ενισχύει την παραγωγικότητα, το JSM-IT810 είναι το ιδανικό εργαλείο τόσο για αρχάριους όσο και για έμπειρους χρήστες SEM.

Βασικά Χαρακτηριστικά

• Αυτοματοποιημένη Εικόνα και Ανάλυση EDS: Η λειτουργία αυτοματισμού χωρίς κωδικοποίηση επιτρέπει την απρόσκοπτη λήψη εικόνων και την ανάλυση φασματοσκοπίας διασποράς ενέργειας (EDS), διασφαλίζοντας μια ομαλή και αποδοτική ροή εργασίας.
• Πακέτο Αυτόματης Ρύθμισης SEM: Αυτόματη βελτιστοποίηση βασικών παραμέτρων όπως ευθυγράμμιση, εστίαση και διόρθωση αστιγματισμού, απλοποιώντας περίπλοκες εργασίες για τους χρήστες.
• Λειτουργία Τραπεζοειδούς Διόρθωσης: Ιδανική για μετρήσεις περίθλασης οπισθοσκεδαζόμενων ηλεκτρονίων (EBSD), διασφαλίζοντας ακριβή και αξιόπιστα αποτελέσματα.
• Ζωντανή Τρισδιάστατη Ανασύνθεση Επιφανειών: Παρέχει οπτικοποίηση της τοπογραφίας επιφάνειας σε πραγματικό χρόνο, επιτρέποντας λεπτομερή ανάλυση της υφής και της δομής υλικών.
• Υψηλή Χωρική Ανάλυση: Προσφέρει εξαιρετική απόδοση απεικόνισης, καταγράφοντας λεπτομέρειες με ακρίβεια και καθαρότητα.

Τεχνικά Χαρακτηριστικά

• Πηγή Ηλεκτρονίων: Πηγή Εκπομπής Πεδίου τύπου Schottky για σταθερή και υψηλή φωτεινότητα.
• Διακριτική Ικανότητα:
  • Λειτουργία Υψηλού Κενού: 1,0 nm στα 20 kV, 1,2 nm στα 15 kV.
  • Λειτουργία Χαμηλού Κενού: 1,4 nm στα 20 kV (με τη χρήση Ανιχνευτή Οπισθοσκεδαζόμενων Ηλεκτρονίων BED).
• Τάση Επιτάχυνσης: Από 0,1 έως 30 kV.
• Ρυθμιζόμενη Μεγέθυνση: ×10 έως ×1.000.000.
• Ψηφιακή Απεικόνιση: ×25 έως ×3.000.000.
• Μηχανοκίνητη Τράπεζα: Κινητό στάδιο 5 αξόνων για αποδοτική και ευέλικτη ανάλυση.

Το JSM-IT810 προσφέρει έναν άψογο συνδυασμό υψηλής ανάλυσης απεικόνισης, αυτοματοποιημένων λειτουργιών και προηγμένων χαρακτηριστικών που καλύπτουν τις ανάγκες της σύγχρονης έρευνας και βιομηχανικών εφαρμογών. Είτε ασχολείστε με την επιστήμη υλικών, τη νανοτεχνολογία είτε με την ανάλυση αστοχίας υλικών, αυτό το FE-SEM παρέχει ασύγκριτη απόδοση και ευκολία χρήσης.

Για περισσότερες πληροφορίες, επισκεφθείτε την επίσημη ιστοσελίδα της JEOL.