JSM-IT800

Το JSM-IT800 είναι το κορυφαίο Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Σάρωσης (SEM) Εκπομπής Πεδίου Schottky της JEOL, σχεδιασμένο να προσφέρει ασύγκριτη ανάλυση εικόνας, ταχύτητα και ευελιξία. Εξοπλισμένο με προηγμένα χαρακτηριστικά και καινοτόμες τεχνολογίες, το JSM-IT800 συνδυάζει την υψηλής ανάλυσης παρατήρηση με γρήγορη χαρτογράφηση στοιχείων, καλύπτοντας τις ποικίλες ανάγκες επιστημονικών και βιομηχανικών χρηστών.

Κύρια Χαρακτηριστικά:

• Πλατφόρμα SEM Center: Ένα διαισθητικό γραφικό περιβάλλον χρήστη (GUI) που λειτουργεί ως ενιαία πλατφόρμα για υψηλής ανάλυσης απεικόνιση και ανάλυση στοιχείων. Απλοποιεί τη λειτουργία και αυξάνει την παραγωγικότητα.
• Ηλεκτρονικό Κανόνι Εκπομπής Πεδίου In-Lens Schottky Plus: Εξασφαλίζει σταθερές, υψηλής φωτεινότητας δέσμες ηλεκτρονίων για εξαιρετικής απόδοσης απεικόνιση και διακριτική ικανότητα.
• Σύστημα Ελέγχου Neo Engine: Το επόμενης γενιάς οπτικό σύστημα ελέγχου ηλεκτρονίων παρέχει ακρίβεια και ευελιξία στην παρατήρηση και την ανάλυση.
• Διαμορφώσεις Αντικειμενικών Φακών: Πέντε διαφορετικές εκδόσεις προσαρμοσμένες σε διαφορετικές εφαρμογές:
  • Υβριδικός Φακός (HL): Γενικής χρήσης FE-SEM για ευέλικτη χρήση.
  • Super Hybrid Lens (SHL): Βελτιστοποιημένος για εξαιρετικά χαμηλές τάσεις επιτάχυνσης και υψηλής διακριτικής ικανότητας απεικόνιση.
  • Semi-In-Lens (i/is): Εξειδικευμένος για παρατήρηση και ανάλυση ημιαγωγών.
• Προηγμένοι Ανιχνευτές:
  • Ανιχνευτής Οπισθοσκεδαζόμενων Ηλεκτρονίων Scintillator (SBED): Παρέχει εξαιρετική απεικόνιση αντίθεσης υλικών ακόμη και σε χαμηλές τάσεις επιτάχυνσης.
  • Πολυλειτουργικός Ανιχνευτής Οπισθοσκέδαζόμενων Ηλεκτρονίων (VBED): Παρέχει 3D απεικόνιση, εικόνες σύνθεσης και εικόνες αντίθεσης υλικού.

Προδιαγραφές:

• Διακριτική Ικανότητα:
  • HL: 0.7 nm (20 kV), 1.3 nm (1 kV)
  • SHL: 0.5 nm (15 kV), 0.7 nm (1 kV)
  • SHLs: 0.6 nm (15 kV), 1.1 nm (1 kV)
  • i: 0.5 nm (15 kV), 0.7 nm (1 kV)
  • is: 0.6 nm (15 kV), 1.0 nm (1 kV)
• Τάση Επιτάχυνσης: 0.01 έως 30 kV
• Ρυθμιζόμενη Μεγέθυνση: ×10 έως ×2,000,000 (HL/SHL/SHLs), ×25 έως ×2,000,000 (i/is)
• Ψηφιακή Απεικόνιση: ×27 έως ×5,480,000 για HL, SHKLs/SHL (1,280 × 960 pixels) και 69 έως ×5,480,000 για i / is (1,280 × 960 pixels)

Το JSM-IT800 είναι ιδανικό για εφαρμογές στην επιστήμη των υλικών, τη νανοτεχνολογία, την έρευνα ημιαγωγών και πολλά άλλα. Με πληθώρα διαφορετικών διαμορφώσεων, προηγμένες αυτοματοποιημένες λειτουργίες και κορυφαία διακριτική ικανότητα, αποτελεί το απόλυτο εργαλείο για υψηλής απόδοσης απεικόνιση και ανάλυση SEM.

Για περισσότερες λεπτομέρειες, επισκεφθείτε την επίσημη ιστοσελίδα της JEOL.