JSM-IT700HR InTouchScope™

Το JSM-IT700HR InTouchScope™ είναι το προηγμένο Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Σάρωσης (SEM) Εκπομπής Πεδίου τύπου Schottky της JEOL, που έχει σχεδιαστεί για να προσφέρει εξαιρετικά υψηλή ανάλυση εικόνας και ακριβείς αναλυτικές δυνατότητες. Με μέγιστο ρεύμα δέσμης 300 nA, παρέχει μεγάλο όγκο πληροφοριών παρατήρησης και ανάλυσης. Η εύχρηστη διεπαφή του απλοποιεί τη λειτουργία, επιτρέποντας την εύκολη εκτέλεση τόσο συνηθισμένων όσο και σύνθετων καθηκόντων. Ο σχεδιασμός του είναι συμπαγής, ενώ ενσωματώνει μεγάλο θάλαμο δείγματος και βελτιωμένη υποστήριξη κατά των κραδασμών.

Βασικά Χαρακτηριστικά:

• Μέγιστο Ρεύμα Ερεύνης: 300 nA για ανάλυση υψηλής αντίθεσης.
• Μεγάλος Θάλαμος Δείγματος: Υποστηρίζει ποικιλία αναλύσεων με άπλετο χώρο και πολλές θύρες προσθέτων συστημάτων.
• Τάση Επιτάχυνσης: 0,5 έως 30 kV, προσφέροντας ευελιξία στην απεικόνιση.
• Λειτουργία Zeromag: Διασφαλίζει ομαλή μετάβαση από οπτική σε SEM εικόνα, βελτιώνοντας την αποδοτικότητα.

Προδιαγραφές:

• Διακριτική Ικανότητα:
• Λειτουργία Υψηλού κενού: 1,0 nm σε 20 kV, 3,0 nm σε 1,0 kV
• Λειτουργία Χαμηλού κενού: 1,8 nm σε 15 kV (χρησιμοποιώντας Ανιχνευτή Οπισθοσκέδασης Ηλεκτρονίων)
• Τάση Επιτάχυνσης: 0,5 έως 30 kV
• Ρυθμιζόμενη Μεγέθυνση: ×5 έως ×600,000 (μέγεθος εκτύπωσης 128 mm × 96 mm)
• Ψηφιακή Απεικόνιση: ×14 έως ×1,679,449 (μέγεθος οθόνης 358 mm × 269 mm)

Το JSM-IT700HR προσφέρει κορυφαία απόδοση SEM σε συμπαγή και εύχρηστο σχεδιασμό, καθιστώντας το ιδανικό για προχωρημένη έρευνα στην επιστήμη των υλικών, τη νανοτεχνολογία και πολλών ακόμη επιστημονικών πεδίων.

Για περισσότερες πληροφορίες, παρακαλούμε επισκεφτείτε την επίσημη ιστοσελίδα της JEOL.