JSM-IT200 InTouchScope™

Το JSM-IT200 InTouchScope™ είναι ένα προηγμένο ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης (SEM) σχεδιασμένο για την απλοποίηση διαδικασιών παρατήρησης, ανάλυσης και αναφοράς.

Κύρια Χαρακτηριστικά:

• Specimen Exchange Navi: Αυτή η φιλική προς τον χρήστη λειτουργία καθοδηγεί τον χειριστή σε κάθε βήμα, από τη φόρτωση του δείγματος έως την επιλογή περιοχής και την παρατήρηση εικόνων SEM, εξασφαλίζοντας αποτελεσματική ροή εργασίας.
• Zeromag Function: Επιτρέπει ομαλές μεταβάσεις από οπτική παρατήρηση σε εικόνες SEM, διευκολύνοντας τη γρήγορη εντόπιση και ανάλυση των ενδιαφερόμενων περιοχών.
• Live Analysis: Παρέχει ανάλυση στοιχειακής σύνθεσης σε πραγματικό χρόνο κατά τη διάρκεια της παρατήρησης, προσφέροντας άμεσες πληροφορίες για τη σύνθεση του δείγματος.
• SMILE VIEW™ Lab: Διευκολύνει τη δημιουργία ολοκληρωμένων αναφορών ενσωματώνοντας τα αποτελέσματα παρατήρησης και ανάλυσης, ενισχύοντας την αποτελεσματικότητα της τεκμηρίωσης.

Τεχνικές Προδιαγραφές:

• Διακριτική Ικανότητα:
  • Λειτουργία υψηλού κενού: 3.0 nm στα 30 kV, 8 nm στα 3 kV, 15.0 nm στο 1.0 kV.
  • Λειτουργία χαμηλού κενού: 4.0 nm στα 30 kV (με χρήση ανιχνευτή διάχυτων ηλεκτρονίων BED).
• Τάση Επιτάχυνσης: Από 0.5 έως 30 kV.
• Ρυθμιζόμενη Μεγέθυνση: ×5 έως ×300,000 (μέγεθος εκτύπωσης 128 mm × 96 mm).
• Ψηφιακή Απεικόνιση: ×14 έως ×839,724 (μέγεθος προβολής 358 mm × 269 mm).

Το JSM-IT200 InTouchScope™ είναι σχεδιασμένο για να παρέχει υψηλής ανάλυσης απεικόνιση και ταχεία ανάλυση σε έναν συμπαγή σχεδιασμό, καθιστώντας το ιδανική λύση για εργαστήρια που αναζητούν προηγμένες δυνατότητες SEM με φιλική προς τον χρήστη λειτουργία.

Για περισσότερες λεπτομέρειες, επισκεφθείτε την επίσημη ιστοσελίδα της JEOL.