Στιλβωτής Διατομής Δείγματος
Το JEOL IB-19540CP Cross Section Polisher™ και το IB-19550CCP Cooling Cross Section Polisher™ είναι προηγμένα όργανα σχεδιασμένα για την προετοιμασία υψηλής ποιότητας διατομών δειγμάτων για ηλεκτρονικά μικροσκόπια. Χρησιμοποιώντας μια ευρεία τεχνική φρεζαρίσματος με δέσμη ιόντων, οι συσκευές αυτές παράγουν καθαρές διατομές γρήγορα και με ελάχιστα τεχνουργήματα, καθιστώντας τις απαραίτητα εργαλεία για ερευνητές και μηχανικούς στην επιστήμη των υλικών, τη νανοτεχνολογία και συναφείς τομείς.
Βασικά χαρακτηριστικά:
Εφαρμογές:
Αυτά τα Cross Section Polishers™ είναι ιδανικά για την προετοιμασία δειγμάτων που είναι δύσκολο να επεξεργαστούν με παραδοσιακές μηχανικές μεθόδους. Είναι ιδιαίτερα αποτελεσματικά για:
Οι προκύπτουσες επιφάνειες είναι κατάλληλες για τεχνικές απεικόνισης και μικροανάλυσης υψηλής διακριτικής ικανότητας, όπως η φασματοσκοπία ακτίνων-Χ ενεργειακής διασποράς (EDS), η φασματοσκοπία διασποράς μήκους κύματος (WDS) και η περίθλαση οπισθοσκεδαζόμενων ηλεκτρονίων (EBSD), όταν χρησιμοποιούνται με ηλεκτρονική μικροσκοπία σάρωσης (SEM), μικροαναλυτές ηλεκτρονικής δέσμης (EPMA) ή Auger.
Πρόσθετα Χαρακτηριστικά:
Συνοπτικά, τα JEOL IB-19540CP και IB-19550CCP Cross Section Polishers™ προσφέρουν προηγμένες δυνατότητες για την προετοιμασία διατομών υψηλής ποιότητας, ενισχύοντας την ακρίβεια και την αποτελεσματικότητα των αναλύσεων ηλεκτρονικής μικροσκοπίας. Οι φιλικές προς τον χρήστη διεπαφές τους, τα χαρακτηριστικά υψηλής απόδοσης και η προσαρμοστικότητά τους σε διάφορους τύπους δειγμάτων τα καθιστούν ανεκτίμητα εργαλεία στα σύγχρονα εργαστήρια έρευνας υλικών.
Για περισσότερες λεπτομερείς πληροφορίες και προδιαγραφές, επισκεφθείτε την επίσημη ιστοσελίδα της JEOL.