JEM-120i

Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Διερχόμενης Δέσμης (TEM)

Το ηλεκτρονικό μικροσκόπιο διερχόμενης δέσμης (TEM) JEM-120i της JEOL είναι ένα όργανο τελευταίας τεχνολογίας σχεδιασμένο για να ανταποκρίνεται στις εξελισσόμενες ανάγκες των ερευνητών σε τομείς όπως η βιολογία και η επιστήμη των πολυμερών. Με τάση επιτάχυνσης 120 kV, το JEM-120i προσφέρει εξαιρετικές δυνατότητες απεικόνισης για μαλακά υλικά, ενσαρκώνοντας τη δέσμευση της JEOL για καινοτομία μέσω του συμπαγούς σχεδιασμού, της φιλικής προς το χρήστη λειτουργίας και της επεκτασιμότητάς του

Συμπαγής Σχεδιασμός

Το συμπαγές μέγεθος του JEM-120i σηματοδοτεί μια σημαντική πρόοδο στον σχεδιασμό των TEM. Το μειωμένο μέγεθός του τοποθετεί τα σημεία αντικατάστασης νήματος (filament replacement) και τοποθέτησης της υποδοχής δείγματος χαμηλότερα από εκείνα των προηγούμενων μοντέλων, βελτιώνοντας την προσβασιμότητα και την εργονομία. Μια πρόσφατα αναπτυγμένη μονάδα cartridge-type filament απλοποιεί και διασφαλίζει τη διαδικασία αντικατάστασης νήματος, καθιστώντας την απλή για κάθε χρήστη. Επιπλέον, μια ενδεικτική λυχνία LED στην πρόσοψη αλλάζει χρώμα για να αντικατοπτρίζει τη λειτουργική κατάσταση του μικροσκοπίου, επιτρέποντας στους χρήστες να αξιολογούν την κατάστασή του από απόσταση

Λειτουργία Φιλική προς τον Χρήστη

Το JEM-120i απλοποιεί τη διαδικασία παρατήρησης του δείγματος σε τέσσερα απλά βήματα:

  1. Τοποθετείτε το specimen holder.
  2. Κάντε κλικ στο κουμπί Start για να ξεκινήσετε αυτόματα τις προετοιμασίες παρατήρησης, συμπεριλαμβανομένης της αύξησης της τάσης και της έναρξης εκπομπής.
  3. Συλλαμβάνεται ταυτόχρονα μια εικόνα ευρείας περιοχής και η επιλογή ενός πεδίου-στόχου μετακινεί τη τράπεζα στην επιλεγμένη θέση.
  4. Η λειτουργία «Butler mode» βοηθάει στην απόκτηση δεδομένων, επιτρέποντας ακόμη και σε αρχάριους να καταγράφουν δεδομένα χωρίς κόπο.

Αυτή η διαισθητική ροή εργασίας ελαχιστοποιεί τη χειροκίνητη παρέμβαση, μειώνοντας την διαδικασία εκμάθησης για τους νέους χρήστες και βελτιώνοντας τη συνολική αποδοτικότητα.

Επιπλέον, το JEM-120i διαθέτει ένα βελτιωμένο σύστημα ελέγχου TEM και πλήρως αυτοματοποιημένα διαφράγματα, εξαλείφοντας την ανάγκη εναλλαγής τρόπων μεγέθυνσης ή χειροκίνητης επιλογής διαφραγμάτων. Αυτή η καινοτομία διευκολύνει την απρόσκοπτη παρατήρηση σε διάφορες μεγεθύνσεις, επιτρέποντας ομαλότερες λειτουργίες σε σύγκριση με τα προηγούμενα μοντέλα.

Επεκτασιμότητα

Σχεδιασμένο με γνώμονα τις μελλοντικές εξελίξεις, το JEM-120i υποστηρίζει μια ποικιλία μετασκευών και φιλοξενεί πρόσθετες λειτουργίες μετά την αγορά. Αυτή η επεκτασιμότητα διασφαλίζει ότι το μικροσκόπιο μπορεί να προσαρμοστεί στις εξελισσόμενες ερευνητικές απαιτήσεις, παρέχοντας μια βιώσιμη και οικονομικά αποδοτική λύση για τα εργαστήρια.

Προδιαγραφές

  • Διακριτική Ικανότητα:2 nm (High Contrast mode), 0.14 nm (High Resolution mode)
  • Τάση Επιτάχυνσης: 20–120 kV
  • Μεγέθυνση:
    • 50–1,200,000× (High Contrast mode)
    • 50–1,500,000× (High Resolution mode)
  • Συμπεριλαμβανόμενη Κάμερα: NEOView Camera, 4 MP, 30 fps
  • Προαιρετική Κάμερα: SightSKY, 19 MP, 58 fps (μπορούν επίσης να τοποθετηθούν κάμερες άλλων κατασκευαστών)
  • Διαστάσεις: Πλάτος 840 mm, Βάθος 1,734 mm, Ύψος 1,782 mm

Για περισσότερες λεπτομερείς πληροφορίες και ερωτήσεις, επισκεφθείτε την επίσημη ιστοσελίδα της JEOL.

Μετάβαση στο περιεχόμενο