Αναλυτικό Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Υψηλής Απόδοσης
Το JEM-ACE200F είναι ένα ηλεκτρονικό μικροσκόπιο που ανταποκρίνεται στο σύστημα, επιτρέποντας σε έναν χειριστή να λαμβάνει δεδομένα χωρίς να χειρίζεται το ηλεκτρονικό μικροσκόπιο.
Δεδομένου ότι το JEM–ACE200F κληρονομεί τις τεχνολογίες του ΤΕΜ υψηλών προδιαγραφών JEM-ARM200F και του FE-TEM πολλαπλών χρήσεων JEM-F200, αυτό το νέο αναλυτικό ηλεκτρονικό μικροσκόπιο υψηλής απόδοσης παρέχει εξαιρετικά υψηλή σταθερότητα και αναλυτικές δυνατότητες με ανανεωμένη και εξελιγμένη εξωτερική σχεδίαση.
Για περισσότερες πληροφορίες σχετικά με τα χαρακτηριστικά του, επισκεφθείτε την ιστοσελίδα της JEOL.
ΑΝΤΙΠΡΟΣΩΠΕΙΕΣ ΚΑΙ ΕΜΠΟΡΙΑ ΕΠΙΣΤΗΜΟΝΙΚΩΝ ΟΡΓΑΝΩΝ
