JAMP-9510F

Το JEOL JAMP-9510F Field Emission Auger Microprobe είναι ένα υπερσύγχρονο όργανο σχεδιασμένο για την ανάλυση επιφανειών υψηλής ευαισθησίας και υψηλής διακριτικής ικανότητας από νάνο έως μικροσκοπική κλίμακα. Εξοπλισμένο με προηγμένες τεχνολογίες, επιτρέπει την ακριβή ανάλυση της κατάστασης των χημικών δεσμών και τη χαρτογράφηση της σύνθεσης, καθιστώντας το απαραίτητο για τους ερευνητές και τους μηχανικούς στην επιστήμη των υλικών, τη νανοτεχνολογία και τους συναφείς τομείς.

Βασικά Χαρακτηριστικά:

• Αναλυτής υψηλής ευαισθησίας και διακριτικής ικανότητας: Το JAMP-9510F χρησιμοποιεί έναν ημισφαιρικό αναλυτή με μεταβλητή ενεργειακή ανάλυση, διευκολύνοντας τη λεπτομερή ανάλυση της κατάστασης χημικού δεσμού στη λειτουργία “high-resolution” και την ταχεία χαρτογράφηση στη λειτουργία “high-sensitivity”.
• Ηλεκτρονικό πυροβόλο εκπομπής πεδίου Schottky: Ενσωματώνοντας την ιδιόκτητη τεχνολογία ηλεκτρονικής οπτικής της JEOL, το ηλεκτρονικό πυροβόλο εκπομπής πεδίου Schottky επιτυγχάνει χωρική ανάλυση 3 nm για την απεικόνιση και παρέχει σταθερό ρεύμα ανιχνευτή έως και 200 nA, απαραίτητο για χημικές αναλύσεις υψηλής απόδοσης.
• Εκκεντρική τράπεζα δειγμάτων: Η εξαιρετικά ακριβής εκκεντρική τράπεζα δειγμάτων επιτρέπει την ακριβή επαναληψιμότητα του κέντρου ύψους και υποστηρίζει κλίση έως 90°, επιτρέποντας την ανάλυση μονωτικών υλικών που προηγουμένως θεωρούνταν πρόκληση. ​
• Ανθεκτικότητα: Σχεδιασμένο με γνώμονα τη μακροζωία, το JAMP-9510F μειώνει το κόστος λειτουργίας που συνδέεται με την αντικατάσταση του νήματος του πυροβόλου ιόντων και ηλεκτρονίων, εξασφαλίζοντας σταθερή απόδοση για μεγάλες χρονικές περιόδους.
• Προηγμένο Λογισμικό: Το λογισμικό του συστήματος διαθέτει μια λειτουργία διαχωρισμού κυμματομορφών για την αποσυμπίεση επικαλυπτόμενων κορυφών Auger και ένα εργαλείο αναδιάρθρωσης χάρτη που επιτρέπει προσαρμογές μετά τη μέτρηση και τη χρονική παρακολούθηση κατά την ολοκλήρωση, βελτιώνοντας τις δυνατότητες ανάλυσης δεδομένων.

Προδιαγραφές:

• Σύστημα Ηλεκτρονιακού Φωτισμού:
  • Διακριτική Ικανότητα: 3 nm (στα 25 kV, 10 pA)​
  • Διάμετρος Ανιχνευτή Ανάλυσης Auger: 8 nm (στα 25 kV, 1 nA)​
  • Πυροβόλο Ηλεκτρονίων: Schottky field emission gun​
  • Τάση Επιτάχυνσης: 0.5 έως 30 kV​
  • Ρεύμα Ανιχνευτή: 10⁻¹¹ to 2×10⁻⁷ A​
  • Ψηφιακή Απεικόνιση: ×25 έως 500,000​
• Σύστημα Ανάλυσης Auger:
  • Αναλυτής: Ηλεκτροστατικός ημισφαιρικός αναλυτής (HSA)​
  • Ανάλυση Ενέργειας (ΔE/E): 0.05 έως 0.6%​
  • Ευαισθησία: 840,000 cps/7 ch ή περισσότερο (στα 10 kV, 10 nA, Cu-LMN, 0.6% resolution, 60° κλίση)​
  • Σύστημα Ανίχνευσης: Ανίχνευση πολλαπλών καναλιών​
• Πυροβόλο Ιόντων:
  • Ενέργεια Ιόντων: 0.01 έως 4 keV​
  • Ρεύμα Ιόντων (απορροφούμενο): 2 μA ή περισσότερο στα 3,000 eV, 0.03 μA ή περισσότερο στα 10 eV​
  • Λειτουργία Εξουδετέρωσης: Ενσωματωμένη​
• Τράπεζα Δειγμάτων:
  • Μετακίνηση Δείγματος: X: ±10 mm, Y: ±10 mm, Z: ±6 mm; Κλίση (T): 0 to 90°; Περιστροφή (R): 360° (αέναη)​
  • Μέγεθος Δείγματος: Έως 20 mm διάμετρος (5 mm πάχος)​
• Σύστημα Εκκένωσης Υπερυψηλού Κενού (UHV):
  • Τελική πίεση στο θάλαμο δειγμάτων: 5×10-⁸ Pa ή λιγότερο​
  • Baking Out: Ενσωματωμένο σύστημα για αυτόματο bake out.​

Επεκτασιμότητα:

Το JAMP-9510F προσφέρει πρόσθετες θύρες για την υποδοχή διαφόρων προσαρτημάτων, υποστηρίζοντας ένα ευρύ φάσμα αναλύσεων. Τα προαιρετικά εξαρτήματα περιλαμβάνουν:​

• Μονάδα Στάθμευσης Δειγμάτων​
• Συσκευή Ψύξης και Θραύσης Δειγμάτων​
• Ανιχνευτής Οπισθοσκεδαζόμενων Ηλεκτρονίων (BED)​
• Φασματόμετρο ακτίνων-Χ Ενεργειακής Διασποράς (EDS)​
• Δοχείο Μεταφοράς​

Συνοψίζοντας, ο μικροαναλυτής Auger εκπομπής πεδίου JAMP-9510F της JEOL αποτελεί ένα κορυφαίο όργανο για λεπτομερή ανάλυση επιφανειών, συνδυάζοντας απεικόνιση υψηλής διακριτικής ικανότητας με προηγμένες αναλυτικές δυνατότητες. Ο στιβαρός σχεδιασμός του, σε συνδυασμό με τις ευέλικτες επιλογές επεκτασιμότητας, το καθιστά πολύτιμο απόκτημα για τα εργαστήρια που στοχεύουν στη διεξαγωγή ακριβών και ολοκληρωμένων χαρακτηρισμών υλικών.​

Για περισσότερες λεπτομερείς πληροφορίες σχετικά με το JAMP-9510F και τις εφαρμογές του, επισκεφθείτε την επίσημη ιστοσελίδα της JEOL.