IB-19530CP

Το JEOL IB-19530CP Cross Section Polisher™ είναι ένα προηγμένο όργανο σχεδιασμένο για την υψηλής ποιότητας προετοιμασία δειγμάτων διατομών για ηλεκτρονική μικροσκοπία. Χρησιμοποιώντας μια ευρεία δέσμη ιόντων Ar+, το IB-19530CP επιτυγχάνει λεπτές διατομές με ελάχιστη παραμόρφωση, ξεπερνώντας τις παραδοσιακές μηχανικές μεθόδους στίλβωσης. Αυτό το καθιστά ιδανική λύση για την ανάλυση ενός ευρέος φάσματος υλικών, όπως μέταλλα, κεραμικά, πολυμερή και σύνθετα υλικά.

Βασικά Χαρακτηριστικά:

• Υψηλή Απόδοση: Εξοπλισμένο με πηγή ιόντων υψηλής ταχύτητας και λειτουργία αυτόματης εκκίνησης, το IB-19530CP επιτρέπει την ταχεία προετοιμασία διατομών, μειώνοντας σημαντικά το χρόνο επεξεργασίας.
• Αυτοματοποιημένο Πρόγραμμα Επεξεργασίας: Το IB-19530CP διαθέτει προγραμματιζόμενες λειτουργίες επεξεργασίας και φινιρίσματος υψηλής ταχύτητας, εξασφαλίζοντας την προετοιμασία διατομών υψηλής ποιότητας σε σύντομο χρονικό διάστημα. Επιπλέον, μια λειτουργία διακοπτόμενης επεξεργασίας ελαχιστοποιεί τις θερμικές βλάβες στα θερμοευαίσθητα υλικά, ελέγχοντας την έκθεση σε ακτινοβολία δέσμης ιόντων.
• Εύκολη Ρύθμιση: Ο αρθρωτός σχεδιασμός της υποδοχής επιτρέπει την ακριβή ρύθμιση της περιοχής φρεζαρίσματος είτε εντός του IB-19530CP είτε με τη χρήση εξωτερικού οπτικού μικροσκοπίου, καθιστώντας την προετοιμασία των δειγμάτων πιο αποτελεσματική.
• Τράπεζα Πολλαπλών Χρήσεων: Η καινοτόμα τράπεζα πολλαπλών χρήσεων, σε συνδυασμό με εξειδικευμένους λειτουργικούς υποδοχείς, επιτρέπει διάφορες λειτουργίες, όπως φρεζάρισμα επίπεδης επιφάνειας, στίλβωση και επικάλυψη με σπατουλάρισμα, εκτός από το παραδοσιακό φρεζάρισμα με ιόντα.
• Ανθεκτική Πλάκα Θωράκισης: Η πλάκα θωράκισης έχει τριπλάσια διάρκεια ζωής από τα συμβατικά προϊόντα, παρέχοντας υψηλότερο ρυθμό επεξεργασίας και εκτεταμένη διάρκεια ζωής του συστήματος.

Τεχνικές Προδιαγραφές:

• Τάση Επιτάχυνσης Ιόντων: 2 έως 8 kV
• Ταχύτητα Φρεζαρίσματος: 500 μm/h ή περισσότερο
• Μέγιστο Μέγεθος Δείγματος: 11 mm (W) × 10 mm (L) × 2 mm (T)
• Λειτουργία Περιστροφής Δείγματος: Αυτόματη περιστροφή δείγματος κατά την άλεση (±30°)
• Λειτουργία Αυτόματης Εκκίνησης: Η άλεση ξεκινά αυτόματα μόλις επιτευχθεί μια προκαθορισμένη πίεση κενού
• Διακοπτόμενη Λειτουργία: Η ελεγχόμενη από παλμούς ακτινοβολία δέσμης ιόντων μειώνει την έκθεση του δείγματος
• Λειτουργία Φινιρίσματος: Μετά την επεξεργασία αρχίζει αυτόματα το φινίρισμα της λεπτής επιφάνειας

Ιδανικές Εφαρμογές:

Το IB-19530CP Cross Section Polisher™ έχει σχεδιαστεί για την ακριβή προετοιμασία απαιτητικών υλικών που είναι δύσκολο να επεξεργαστούν με συμβατικές μηχανικές τεχνικές. Είναι ιδιαίτερα αποτελεσματικός για:

✔ Εύθραυστα Υλικά

✔ Επικαλύψεις σε στρώματα με διαφορετική σκληρότητα ή συντελεστή θερμικής διαστολής

✔ Πορώδη ή Ευαίσθητα Υλικά

✔ Πολυμερή και Σύνθετα Υλικά

Οι υψηλής ποιότητας διατομές που παράγονται είναι κατάλληλες για προηγμένες τεχνικές απεικόνισης και μικροανάλυσης υψηλής διακριτικής ικανότητας, συμπεριλαμβανομένης της φασματοσκοπίας ακτίνων-Χ ενεργειακής διασποράς (EDS), της φασματοσκοπίας διασποράς μήκους κύματος (WDS) και της περίθλασης οπισθοσκεδαζόμενων ηλεκτρονίων (EBSD), όταν χρησιμοποιούνται με ηλεκτρονικά μικροσκόπια σάρωσης (SEM), μικροαναλυτές ηλεκτρονικής δέσμης (EPMA) ή μικροναλυτές Auger.

Πρόσθετα Χαρακτηριστικά:

• Φιλικό προς το Χρήστη Περιβάλλον Λογισμικού: Ένας βελτιωμένος πίνακας ελέγχου καθοδηγεί τους χρήστες βήμα προς βήμα στη διαδικασία ρύθμισης. Οι προκαθορισμένες λειτουργίες επιτρέπουν γρήγορες και βελτιστοποιημένες ρυθμίσεις για διαφορετικούς τύπους δειγμάτων, ενισχύοντας την ευκολία χρήσης.
• Κάμερα Παρακολούθησης της Διαδικασίας Άλεσης (Προαιρετικό): Μια προαιρετική κάμερα παρακολούθησης της διαδικασίας άλεσης σε πραγματικό χρόνο επιτρέπει στους χρήστες να παρατηρούν και να ρυθμίζουν τη διαδικασία άλεσης. Όταν συνδέεται σε τοπικό δίκτυο (LAN), οι χρήστες μπορούν να έχουν πρόσβαση και να ελέγχουν το σύστημα από απόσταση, αυξάνοντας την ευελιξία και την αποτελεσματικότητα.
• Ευέλικτο Σύστημα Υποδοχής Δειγμάτων: Η ευέλικτη σχεδίαση της βάσης φιλοξενεί μια ποικιλία υποδοχέων δειγμάτων, συμπεριλαμβανομένων εκείνων για φρεζάρισμα μεγάλης επιφάνειας, επίπεδο φρεζάρισμα, σπατουλάρισμα άνθρακα και μεταφορά υπό κενό. Οι τυποποιημένοι κάτοχοι είναι συμβατοί με τις τράπεζες δειγμάτων SEM της JEOL, επιτρέποντας την άμεση μεταφορά δειγμάτων.

Συμπέρασμα:

Το JEOL IB-19530CP Cross Section Polisher™ προσφέρει δυνατότητες τελευταίας τεχνολογίας για την προετοιμασία διατομών υψηλής ποιότητας, εξασφαλίζοντας εξαιρετική ακρίβεια και αποτελεσματικότητα στην ανάλυση δειγμάτων ηλεκτρονικής μικροσκοπίας. Το φιλικό προς το χρήστη περιβάλλον εργασίας, τα χαρακτηριστικά υψηλής απόδοσης και η προσαρμοστικότητα σε διάφορους τύπους δειγμάτων το καθιστούν ένα ανεκτίμητο εργαλείο για τα εργαστήρια επιστήμης υλικών, νανοτεχνολογίας και προηγμένης έρευνας.

📌 Για λεπτομέρειες και πλήρεις προδιαγραφές, επισκεφθείτε την επίσημη ιστοσελίδα της JEOL.