AXIS Supra+

Ηγέτης στην Ανάλυση Επιφανειών

Η Φωτοηλεκτρονική Φασματοσκοπία Ακτίνων-Χ (XPS) είναι μοναδική στην παροχή ποσοτικών στοιχείων για την σύσταση και την χημική κατάσταση της επιφάνειας ενός υλικού, επικεντρωμένη στα ανώτερα 10 nm του δείγματος. Το AXIS Supra+ (γνωστό και ως Kratos Ultra 2 στην Ιαπωνία) αποτελεί κορυφαίο φασματόμετρο φωτοηλεκτρονίων ακτίνων Χ, συνδυάζοντας τεχνολογία αιχμής σε φασματοσκοπία και απεικόνιση με τον υψηλότερο βαθμό αυτοματισμού που διατίθεται σήμερα.

Με εξαιρετική φασματοσκοπική απόδοση σε μεγάλες επιφάνειες, το AXIS Supra+ μπορεί να αναλύσει υλικά κάθε τύπου, συμπεριλαμβανομένων μετάλλων, ημιαγωγών και μονωτών. Η ταχεία απεικόνιση XPS υψηλής χωρικής ανάλυσης αποκαλύπτει τη πλευρική κατανομή της χημείας της επιφάνειας, επιτρέποντας περαιτέρω ανάλυση επιλεγμένων μικρών περιοχών.

Ο σχεδιασμός του AXIS Supra+ προσφέρει ευελιξία, επιτρέποντας την προσθήκη επιπλέον επιλογών για ανάλυση και προετοιμασία επιφανειών χωρίς συμβιβασμούς στην απόδοση του XPS. Αυτή η προσαρμοστικότητα το καθιστά απαραίτητο εργαλείο για ολοκληρωμένο χαρακτηρισμό επιφανειών υλικών.

Ευαισθησία

Το AXIS Supra+ προσφέρει εξαιρετική ευαισθησία τόσο στις φασματοσκοπικές όσο και στις απεικονιστικές λειτουργίες XPS. Η ευαισθησία είναι ζωτικής σημασίας για τη συλλογή δεδομένων στον ελάχιστο δυνατό χρόνο, κάτι ιδιαίτερα σημαντικό για υλικά που είναι ευαίσθητα στην έκθεση σε ακτίνες Χ. Η υψηλή ευαισθησία διευκολύνει επίσης την ανίχνευση και την ποσοτικοποίηση στοιχείων χαμηλής συγκέντρωσης ή ελαφρών στοιχείων με μικρές διατομές φωτοηλεκτρονίων.

Κύρια Πλεονεκτήματα

• Ανίχνευση, μέτρηση και ποσοτικοποίηση πολύ χαμηλών συγκεντρώσεων.
• Ταχύτεροι χρόνοι απόκτησης δεδομένων για μεγαλύτερη αποδοτικότητα.

Imaging XPS

Η πλευρική κατανομή των στοιχείων ή της χημικής σύστασης της επιφάνειας μετράται με imaging XPS. Το AXIS Supra+ αποκτά ταχύτατα παράλληλες εικόνες υψηλής χωρικής ανάλυσης, επιτυγχάνοντας ανώτερη απόδοση σε σχέση με την παραδοσιακή προσέγγιση με σαρωμένη δέσμη.

Με τη δυνατότητα συνδυασμού παράλληλης απεικόνισης και κινήσεων της βάσης, μπορεί να δημιουργήσει “συρραμμένες” εικόνες που καλύπτουν αρκετά χιλιοστά με ανάλυση της τάξης των μικρομέτρων.

Χαρακτηριστικά Παράλληλης Απεικόνισης

• Υπέρτατη χωρική ανάλυση 1 μικρομέτρου στη μέγιστη μεγέθυνση.
• Υψηλή ενεργειακή ανάλυση και απεικόνιση χημικών καταστάσεων.
• Ποσοτική απεικόνιση – μοναδικός αναλυτής σφαιρικού κατόπτρου και ανιχνευτής γραμμής καθυστέρησης για χημικές ποσοτικές εικόνες.
• Σπεκτρομικροσκοπία – Εύκολη συλλογή φασμάτων από σύνολα δεδομένων εικόνας, με φάσμα για κάθε πίξελ.

Για περισσότερες πληροφορίες σχετικά με τα χαρακτηριστικά του, επισκεφθείτε την επίσημη ιστοσελίδα της Shimadzu.