AXIS Nova

Φασματοσκοπία Φωτοηλεκτρονίων Ακτίνων Χ (XPS)

Μία ευρέως χρησιμοποιούμενη τεχνική ανάλυσης επιφανειών

Η φασματοσκοπία φωτοηλεκτρονίων ακτίνων Χ (XPS), γνωστή και ως φασματοσκοπία ηλεκτρονίων για χημική ανάλυση (ESCA), αποτελεί μια ώριμη και καθιερωμένη μέθοδο για την χαρακτηριστικοποίηση υλικών. Παρέχει ποσοτικά δεδομένα για την στοιχειακή σύσταση και τη χημική κατάσταση της επιφάνειας, επικεντρώνοντας στα ανώτερα 10 nm του υλικού.

Το φασματόμετρο φωτοηλεκτρονίων AXIS Nova μπορεί να συλλέξει φάσματα και εικόνες XPS από οποιοδήποτε υλικό είναι σταθερό στις συνθήκες υπερυψηλού κενού που απαιτούνται για την τεχνική.

Επιδόσεις Αιχμής

Σχεδιασμένο για ευκολία χρήσης, το AXIS Nova περιλαμβάνει αυτόματη φόρτωση δειγμάτων, ορθογώνιες κάμερες για εύκολη τοποθέτηση δειγμάτων και φιλικό στη χρήση λογισμικό απόκτησης δεδομένων.

Ένα μοναδικό χαρακτηριστικό του AXIS Nova είναι η βάση δειγμάτων διαμέτρου 110mm, που επιτρέπει τη διαχείριση δειγμάτων μεγάλου μεγέθους και υψηλή απόδοση ανάλυσης. Όλα αυτά τα πλεονεκτήματα προσφέρονται χωρίς να γίνονται συμβιβασμοί στην κορυφαία απόδοση της αγοράς.

Το AXIS Nova διακρίνεται για:

• Υψηλή ευαισθησία: Ιδανική για ανίχνευση χαμηλής συγκέντρωσης στοιχείων.
• Εξαιρετική ενεργειακή ανάλυση: Παρέχει σαφή και αξιόπιστα δεδομένα.
• Ταχεία απεικόνιση υψηλής χωρικής ανάλυσης: Ιδανική για τις πιο απαιτητικές εφαρμογές.

Το AXIS Nova είναι έτοιμο να ανταποκριθεί στις ανάγκες ανάλυσης ακόμη και στις πιο προκλητικές εφαρμογές.

Για περισσότερες πληροφορίες σχετικά με τα χαρακτηριστικά του, επισκεφθείτε την επίσημη ιστοσελίδα της Shimadzu.