Μικροσκοπία

JEOL JEM-ACE200F
JEM-ACE200F
Jeol
Αναλυτικό Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Υψηλής Απόδοσης
JEOL JEM-ARM200F NEOARM
JEM-ARM200F NEOARM
Jeol
Αναλυτικό Μικροσκόπιο Ατομικής Ανάλυσης
JEOL JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2
JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2
Jeol
Αναλυτικό Μικροσκόπιο Ατομικής Ανάλυσης
JEOL JEM-F200
JEM-F200
Jeol
Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Πολλαπλών Χρήσεων
JEOL JIB-4700F
JIB-4700F
Jeol
Σύστημα Multi Beam
JEOL JIB-PS500i
JIB-PS500i
Jeol
Σύστημα FIB-SEM
JEOL JSM-IT210
JSM-IT210
Jeol
Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Σάρωσης (SEM)
JEOL JSM-IT510
JSM-IT510 InTouchScope™
Jeol
SEM Θερμιονικής Εκπομπής
JEOL JSM-IT710HR
JSM-IT710HR
Jeol
SEM Υψηλής Ανάλυσης
JEOL JSM-IT810
JSM-IT810
Jeol
SEM Εκπομπής Πεδίου τύπου Schottky
JEOL JXA-iHP200F
JXA-iHP200F
Jeol
Mικροαναλυτής Ηλεκτρονικής Δέσμης Εκπομπής Πεδίου (FE-EPMA)
JEOL JXA-iSP100
JXA-iSP100
Jeol
Μικροαναλυτής Ηλεκτρονικής Δέσμης (EPMA)
Nanosurf LensAFM
LensAFM
Nanosurf
Μικροσκόπιο Ατομικών Δυνάμεων για Οπτικά Μικροσκόπια
JEOL Monochromated ARM200F
Monochromated JEM-ARM200F
Jeol
Μονοχρωμάτορας Διπλού Φίλτρου Wien
Neoscan N60
N60
Neoscan
Συμπαγής & Προσιτός Μικροτομογράφος Ακτίνων Χ (Micro-CT)
Neoscan N70
N70
Neoscan
Υψηλής Απόδοσης Μικροτομογράφος Ακτίνων Χ (Micro-CT)
Neoscan N80
N80
Neoscan
Επιστημονικού Επιπέδου Μικροτομογράφος Ακτίνων Χ Υπερυψηλής Ανάλυσης
Neoscan N90
N90
Neoscan
Ο Πρώτος Επιτραπέζιος Νάνο-Τομογράφος Ακτίνων Χ Παγκοσμίως
Nanosurf NaioAFM
NaioAFM
Nanosurf
Εκπαιδευτικό Μικροσκόπιο Ατομικών Δυνάμεων
Nanosurf NaioSTM
NaioSTM
Nanosurf
Μικροσκόπιο Σάρωσης Σήραγγας
Nanosurf Nanite
Nanite
Nanosurf
Μικροσκόπιο Ατομικών Δυνάμεων Ανάλυσης Επιφανειών Νανοκλίμακας
Neoscan Software
Neoscan Software
Neoscan
Ολοκληρωμένο Λογισμικό Ελέγχου, Ανακατασκευής & Ανάλυσης Micro-CT
Neoscan NXL
NXL
Neoscan
Μικροτομογράφος Ακτίνων Χ για Μεγάλα Δείγματα
Μετάβαση στο περιεχόμενο