Main Menu
espa banner

Μικροσκοπία

Neoscan 3D Neospace Station
3D NeoSpace Station
Neoscan
3D Διαδραστική απεικόνιση χωρίς γυαλιά
Nanosurf Alphacen 200 Drive
Alphacen 200 Drive
Nanosurf
Βιομηχανικό Μικροσκόπιο Ατομικών Δυνάμεων
Nanosurf Alphacen 300 Flex
Alphacen 300 Flex
Nanosurf
Βιομηχανικό Μικροσκόπιο Ατομικών Δυνάμεων
Nanosurf CoreAFM
CoreAFM
Nanosurf
Ερευνητικό Μικροσκόπιο Ατομικών Δυνάμεων
JEOL CRYO ARM™ 200 (JEM-Z200FSC)
CRYO ARM™ 200
Jeol
Κρυο-Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Εγγύς Πεδίου
JEOL CRYO ARM™ 300 (JEM-Z300FSC)
CRYO ARM™ 300
Jeol
Κρυο-Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Εκπομπής Πεδίου
JEOL CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300)
CRYO ARM™ 300 II
Jeol
Κρυο-Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Εκπομπής Πεδίου
JEOL CRYO-FIB-SEM
CRYO-FIB-SEM
Jeol
CryoLameller
Nanosurf DriveAFM
DriveAFM
Nanosurf
Ερευνητικό Μικροσκόπιο Ατομικών Δυνάμεων
Nanosurf FlexAFM
FlexAFM
Nanosurf
Ερευνητικό Μικροσκόπιο Ατομικών Δυνάμεων
JEOL IB-19520CCP
IB-19520CCP
Jeol
Στιλβωτής Διατομής Δείγματος
JEOL IB-19530CP
IB-19530CP
Jeol
Στιλβωτής Διατομής Δείγματος
JEOL IB-19540CP IB-19550CCP
IB-19540CP / IB-19550CCP
Jeol
Στιλβωτής Διατομής Δείγματος
JEOL JAMP-9510F
JAMP-9510F
Jeol
Μικροαναλυτής Auger
JEOL JBX-3050MV/S
JBX-3050MV/S
Jeol
Σύστημα Λιθογραφίας με Δέσμη Ηλεκτρονίων Μεταβλητού Σχήματος
JEOL JBX-3200MVS
JBX-3200MVS
Jeol
Σύστημα Λιθογραφίας με Δέσμη Ηλεκτρονίων Μεταβλητού Σχήματος
JEOL JBX-8100FS Series
JBX-8100FS Series
Jeol
Σύστημα Λιθογραφίας με Δέσμη Ηλεκτρονίων (EBL)
JEOL JBX-9500FS
JBX-9500FS
Jeol
Σύστημα Λιθογραφίας με Δέσμη Ηλεκτρονίων (EBL) 100kV
JEOL JBX-A9
JBX-A9 Series
Jeol
Σύστημα Λιθογραφίας Δέσμης Ηλεκτρονίων
JEOL JCM-7000 NeoScope™ Benchtop SEM
JCM-7000 NeoScope™ Benchtop SEM
Jeol
Επιτραπέζιο SEM
JEOL JEM-120i
JEM-120i
Jeol
Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Διερχόμενης Δέσμης (TEM)
JEOL JEM-1400Flash
JEM-1400Flash
Jeol
Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Διέλευσης Ηλεκτρονίων
JEOL JEM-2100Plus
JEM-2100Plus
Jeol
Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Διέλευσης Πολλαπλών Χρήσεων
JEOL JEM-2200FS
JEM-2200FS
Jeol
Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Εγγύς Πεδίου
Μετάβαση στο περιεχόμενο