Μικροσκοπία Archives - ΑΣΤΕΡΙΑΔΗΣ Α.Ε.

Αρχική
Εταιρεία
Προϊόντα
- Αναλυτικά Όργανα
  
  Μικροσκοπία
  
  Εργαστηριακός Εξοπλισμός
  
  Όργανα Βιοτεχνολογίας
  
  Ποιοτικός Έλεγχος & Έρευνα
  
  Νανοτεχνολογία
  
  Πειραματικός Εξοπλισμός Αναπαραγωγής Φυτών
  
  Ειδικά Λογισμικά Αναλυτικών Οργάνων
  
  Μηχανές Παραγωγής Τυπωμένων Κυκλωμάτων SMT
  
  Προγραμματιζόμενα Πληκτρολόγια
  
  Διμεταλλικοί Θρόμβοι
  
  Καλώδια
  
  Εξαρτήματα Σύνδεσης Υδραυλικών Σωλήνων
  
  Films για Τυπωμένα Κυκλώματα
  
  Καλώδια Ισχύος
  
  Προϊόντα Διηλεκτρισμού
  
  Εμαγιέ Σύρματα Χαλκού
  
  Εξαρτήματα Μετασχηματισμών και Ηλεκτρικών Κινητήρων
  
  Εξαρτήματα Φωτισμού
  
  Ειδικά Προϊόντα από Άνθρακα και Γραφίτη
  
  Εξαρτήματα Κινητήρων, Μετασχηματιστών κ.α.
  
  Carbon Brushes
Προμηθευτές
Υπηρεσίες
Τεχνική Υποστήριξη
Νέα
Επικοινωνία

EN
GR

Μικροσκοπία

TEM

Ηλεκτρονικά Μικροσκόπια Διερχόμενης Δέσμης (TEM)

SEM

Ηλεκτρονικά Μικροσκόπια Σάρωσης (SEM)

Auger

Μικροαναλυτές Auger

EPMA

Μικροαναλυτές Ηλεκτρονικής Δέσμης (EPMA)

Προετοιμασία Δείγματος

FIB

Συστήματα Εστιασμένης Δέσμης Ιόντων (FIB)

AFM

Μικροσκόπια Ατομικών Δυνάμεων (AFM)

Lithography

Συστήματα Λιθογραφίας Δέσμης Ηλεκτρονίων

Nanosurf Alphacen 200 Drive

Alphacen 200 Drive

Βιομηχανικό Μικροσκόπιο Ατομικών Δυνάμεων

Nanosurf Alphacen 300 Flex

Alphacen 300 Flex

Βιομηχανικό Μικροσκόπιο Ατομικών Δυνάμεων

Nanosurf CoreAFM

CoreAFM

Ερευνητικό Μικροσκόπιο Ατομικών Δυνάμεων

JEOL CRYO ARM™ 200 (JEM-Z200FSC)

CRYO ARM™ 200

Κρυο-Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Εγγύς Πεδίου

JEOL CRYO ARM™ 300 (JEM-Z300FSC)

CRYO ARM™ 300

Κρυο-Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Εκπομπής Πεδίου

JEOL CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300)

CRYO ARM™ 300 II

Κρυο-Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Εκπομπής Πεδίου

JEOL CRYO-FIB-SEM

CRYO-FIB-SEM

CryoLameller

Nanosurf DriveAFM

DriveAFM

Ερευνητικό Μικροσκόπιο Ατομικών Δυνάμεων

Nanosurf FlexAFM

FlexAFM

Ερευνητικό Μικροσκόπιο Ατομικών Δυνάμεων

JEOL IB-19520CCP

IB-19520CCP

Στιλβωτής Διατομής Δείγματος

JEOL IB-19530CP

IB-19530CP

Στιλβωτής Διατομής Δείγματος

JEOL IB-19540CP IB-19550CCP

IB-19540CP / IB-19550CCP

Στιλβωτής Διατομής Δείγματος

JEOL JAMP-9510F

JAMP-9510F

Μικροαναλυτής Auger

JEOL JBX-3050MV/S

JBX-3050MV/S

Σύστημα Λιθογραφίας με Δέσμη Ηλεκτρονίων Μεταβλητού Σχήματος

JEOL JBX-3200MVS

JBX-3200MVS

Σύστημα Λιθογραφίας με Δέσμη Ηλεκτρονίων Μεταβλητού Σχήματος

JEOL JBX-8100FS Series

JBX-8100FS Series

Σύστημα Λιθογραφίας με Δέσμη Ηλεκτρονίων (EBL)

JEOL JBX-9500FS

JBX-9500FS

Σύστημα Λιθογραφίας με Δέσμη Ηλεκτρονίων (EBL) 100kV

JEOL JBX-A9

JBX-A9 Series

Σύστημα Λιθογραφίας Δέσμης Ηλεκτρονίων

JEOL JCM-7000 NeoScope™ Benchtop SEM

JCM-7000 NeoScope™ Benchtop SEM

Επιτραπέζιο SEM

JEOL JEM-120i

JEM-120i

Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Διερχόμενης Δέσμης (TEM)

JEOL JEM-1400Flash

JEM-1400Flash

Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Διέλευσης Ηλεκτρονίων

JEOL JEM-2100Plus

JEM-2100Plus

Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Διέλευσης Πολλαπλών Χρήσεων

JEOL JEM-2200FS

JEM-2200FS

Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Εγγύς Πεδίου

JEOL JEM-ACE200F

JEM-ACE200F

Αναλυτικό Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Υψηλής Απόδοσης