Φασματομετρία Ανάλυσης Επιφάνειας (XPS) Archives - ΑΣΤΕΡΙΑΔΗΣ Α.Ε.

Αρχική
Εταιρεία
Προϊόντα
- Αναλυτικά Όργανα
  
  Μικροσκοπία
  
  Εργαστηριακός Εξοπλισμός
  
  Όργανα Βιοτεχνολογίας
  
  Ποιοτικός Έλεγχος & Έρευνα
  
  Νανοτεχνολογία
  
  Πειραματικός Εξοπλισμός Αναπαραγωγής Φυτών
  
  Ειδικά Λογισμικά Αναλυτικών Οργάνων
  
  Μηχανές Παραγωγής Τυπωμένων Κυκλωμάτων SMT
  
  Προγραμματιζόμενα Πληκτρολόγια
  
  Διμεταλλικοί Θρόμβοι
  
  Καλώδια
  
  Εξαρτήματα Σύνδεσης Υδραυλικών Σωλήνων
  
  Films για Τυπωμένα Κυκλώματα
  
  Καλώδια Ισχύος
  
  Προϊόντα Διηλεκτρισμού
  
  Εμαγιέ Σύρματα Χαλκού
  
  Εξαρτήματα Μετασχηματισμών και Ηλεκτρικών Κινητήρων
  
  Εξαρτήματα Φωτισμού
  
  Ειδικά Προϊόντα από Άνθρακα και Γραφίτη
  
  Εξαρτήματα Κινητήρων, Μετασχηματιστών κ.α.
  
  Carbon Brushes
Προμηθευτές
Υπηρεσίες
Τεχνική Υποστήριξη
Νέα
Επικοινωνία

EN
GR

Φασματομετρία Ανάλυσης Επιφάνειας (XPS)

Kratos Analytical Axis Nova

AXIS Nova

Kratos Analytical Axis Supra+

AXIS Supra+

JEOL JPS-9030

JPS-9030